2026光伏组件八大辅材“失效榜”：谁在拖可靠性的后腿？
本文要点
功率衰减在变好，失效却在变多：2026 版 Kiwa PVEL Scorecard 中 87% 的厂商、61% 的 BOM 至少失效一次，七成以上是破裂和脱层这类封装与结构问题。按出现频度和后果严重度综合排序，玻璃、胶膜、接线盒位列前三。
先说一句可能扫兴的话：2026 年并不存在一份公开、权威的“八大辅材客诉率排名”。客诉数据是各家组件厂和辅材厂最不愿示人的东西，大多躺在质量部门的 8D 报告里，不会出现在任何公开报告中。
但公开渠道有一份足够硬的替代品：独立实验室 Kiwa PVEL 今年 5 月发布的第 12 版《光伏组件可靠性记分卡》（Scorecard），以及它在 9 月的欧洲光伏大会（EU PVSEC）和行业媒体上补充发布的失效分析。它把过去一年全球主流厂商送测组件的失效，按类型、按测试序列统计了出来。
本文就以这份数据为主线，辅以 IEA PVPS、kWh Analytics、UNSW 等机构的公开研究，给八大辅材排一个“失效风险榜”，并逐个点评。
下文的百分比均为实验室加严测试中的失效占比，不是现场失效率，更不是客诉率；榜单名次是我们基于这些数据做的综合评价，不是任何机构的官方排名。
图1 八大辅材在组件中的位置
01先看大盘：衰减在变好，失效在变差
2026 版 Scorecard 最扎眼的两个数字：87% 的厂商、61% 的 BOM 在测试中至少出现一次失效，创下历史新高。上一版是 83% 和 59%；两年前还是约三分之二和 41%。按 BOM 口径，这已经是连续第四年创纪录。
图2 PQP 测试失效占比逐年走高
有意思的是，同一份报告里，功率衰减其实在变好：热循环（TC）、湿热（DH）、PID、UVID 之后的功率损失都在下降，UVID 的衰减中位数从 4.2% 降到了 3.0%。
那失效出在哪儿？报告给了一个很干脆的拆分：全部失效中 73% 是外观检查发现的重大缺陷，其中 50% 是组件破裂，46% 是脱层。
问题已经从“电池会不会衰减”，转移到了“封装和结构撑不撑得住”。而封装和结构，恰恰就是辅材的地盘。
另一个细节：今年头一次，没有任何一个 BOM 能在全部 8 项测试中都拿到 Top Performer。
02榜单：八大辅材失效风险排名
排序看两个维度：出现频度（公开测试数据里暴露得多不多）和后果严重度（是否涉及安全、能否修复）。频度有数据支撑，严重度是我们的工程判断。
图3 八大辅材失效风险榜（本所综合评价）
图4 2026 版 Scorecard 各类失效波及的厂商占比
03逐个点评
NO.1 玻璃：破片，仍是头号风险
- 60% 的厂商出现过组件破裂失效
- 机械载荷序列中 26% 的 BOM 至少碎一块
- 2.0+2.0 mm 双玻在 45 mm 冰雹下破裂率 61%
Kiwa PVEL 的判断是：组件破裂仍是头号可靠性风险。数据也印证了这一点：冰雹序列里 23% 的 BOM 出现破裂，标准的 2.0+2.0 mm 双玻在 40 mm 冰雹下就有 43% 破裂，而加厚玻璃设计在 45 mm 冰雹下只有 7%。9 月的补充分析里还有一个更直观的例子：某个 BOM 的 20 块组件户外放置几周后，就有 6 块出现玻璃破裂。
破裂位置很有规律：集中在玻璃边缘和接线盒开孔附近。IEA PVPS Task 13 的报告也点了名，厚度 ≤2 mm 的薄玻璃在新型双玻组件上“有时会出现难以预测的高破裂率”。
我们的看法：玻璃排第一，但账不能全算在玻璃厂头上。2.0 mm 半钢化玻璃配上越来越大的版型，本身的强度裕量就薄；再叠加开孔、边框、安装方式，任何一环差一点都会在玻璃上“兑现”。玻璃是结果的承担者，不一定是原因的制造者。
NO.2 胶膜：脱层，今年升得最快
- 45% 的厂商出现过脱层失效，一年增至三倍
- 约三分之一的重大脱层发生在湿热测试后
- TC600 后功率损失超 2% 的 BOM 中，七成以上用的是克重处于最低四分位的前层胶膜
Kiwa PVEL 的负责人用了“流行病”来形容。典型形貌是组件四周一圈气泡：功率几乎不掉，但气泡连成通路后会缩短爬电距离。按 IEC 61730，这属于重大缺陷，是安全问题而不是外观问题。Kiwa PVEL 实测的失效组件里，要求 0.3 mm 的爬电距离只剩 0–0.2 mm。
原因被归结为几点：边缘胶膜量不足（克重在降、边缘被挤薄）、层压配方为提产而缩短、双玻本身比单玻更难层压。今年送测样品中双玻约占九成。9 月的补充分析进一步给出了风险排序：胶膜类型（前后都用 EPE 时触发的重大脱层最多）、边缘挤压、层压方式和助焊剂配方是最关键的四个因素。
另一条线是化学腐蚀。UNSW 今年 1 月的研究发现，某款商用 POE 在 DH1000 后让 TOPCon 小组件功率损失约 55%，同批 EVA 样品只有约 11%；2 月的另一项研究指出，白色 EVA 中的含镁助剂会加剧湿热衰减。
我们的看法：“POE 一定比 EVA 安全”这类按材料类型下结论的经验已经不够用了，要看到具体配方和助剂。胶膜是今年最值得警惕的一项。
NO.3 接线盒：总量在降，二极管在升
- 21% 的厂商出现接线盒相关失效
- 其中旁路二极管失效 17%
- 有样品在 TC200 后即二极管熔毁
接线盒是榜单里唯一总量下降的一项（上一版约三分之一的厂商），盒盖脱落降到 4%。但旁路二极管成了接线盒失效的主体。
Kiwa PVEL 给的解释是：接线盒额定电流相对组件输出电流的裕量越来越小。组件电流一路走高，接线盒却没有同步升级。实验室还提到，收到的现场接线盒热斑、熔毁报告在增多，个别已引发植被火灾。
连接器同样值得留意。kWh Analytics 2026 年报告引用 Nextpower 的数据：79% 的高风险连接器和熔断器问题在巡检时没有可检测的热特征，也就是说红外无人机扫不出来。
我们的看法：接线盒频度排不到第一，但严重度是八项里最高的，一出事就是烧。把它排第三，是频度和严重度相抵的结果。
NO.4 边框：减下去的那几毫米
- 边框 <35 mm 时破裂率 17.9%
- 边框 ≥35 mm 时破裂率 6.9%
- 62% 的破裂组件有“夹玻璃”痕迹
上面这组对照来自面积 2.5–3.0 m² 的组件，边框矮下去，破裂率是原来的两倍半还多。
图5 薄玻璃与矮边框的代价
更值得琢磨的是另一条：机械载荷中破裂的组件，62% 能看到边框夹持导致的正面玻璃破裂。超过 90% 的样品已经用了更高强度的 6005-T6 铝材，照样没挡住破裂创纪录。Kiwa PVEL 的结论是，边框更硬不一定更好，硬边框会把应力通过夹持点传给玻璃。
我们的看法：边框的问题不在材料牌号，而在截面设计和它与玻璃、硅胶之间的配合。它和玻璃是“共同被告”。
NO.5 密封胶与灌封胶：用量省出来的问题
- 9% 的厂商出现与接线盒相关的安全失效（湿漏电）
- 原因：灌封胶不足，盒内带电体外露
- 4% 的厂商出现盒盖脱落
有的样品在初始检测时就湿漏电不合格，根本不需要做老化，拆开一看是灌封胶没灌够。
边框硅胶是另一个隐患。Kiwa PVEL 提到，有厂商为了省去装框后的清胶工序而调整打胶工艺，结果增加了玻璃与金属直接接触的风险，形成应力集中点，最终表现为破片。
我们的看法：胶是八大辅材里单价最低的之一，却同时牵着“漏电”和“破片”两条线。它很少被单独客诉，却经常是别人被客诉的原因。
NO.6 焊带与助焊剂：被多主栅“掩护”了
- 热循环是失效率最高的测试序列（超 35% 的 BOM）
- 0BB 组件 TC 后功率损失跨度 0.6%–8.4%
- IEA PVPS 将虚焊列为新一代组件的关键失效类型
先说明：热循环的失效里包含脱层、二极管等多种类型，公开数据没有单独拆出焊接相关的比例，所以这一项缺少可直接归因的数字。
多主栅设计提供了大量冗余电流通路，个别焊点不良不再像 3BB、5BB 时代那样直接掉功率，这让焊接问题在功率数据上“隐身”了。但无主栅（0BB）组件的 TC 结果已经开始分化，好的不到 1%，差的超过 8%。UNSW 的系列研究表明，助焊剂残留会与胶膜水解产生的醋酸共同作用，腐蚀电池正面金属化；Kiwa PVEL 也把助焊剂配方列为脱层的关键诱因之一，配方不当会让胶膜从焊带处脱开。
我们的看法：焊带本身问题不大，风险在焊带越来越细之后的焊接窗口，以及助焊剂与胶膜、银浆的化学匹配。
NO.7 银浆：问题在湿热，变量在“去银”
- TOPCon 正面银铝浆对湿热腐蚀敏感
- 玻璃料成分被确认是抗腐蚀的关键
- 少银、无银浆料加速导入，尚缺长期户外数据
UNSW 与中来今年 5 月发表的研究指出，低铝银浆的腐蚀主要由玻璃料化学决定，钡锌改性的玻璃料能明显提高耐醋酸和耐湿热能力。换句话说，这个问题有解，而且头部厂商大多已经在解。
我们的看法：银浆今年在失效数据里并不突出。真正的变量在后面：据行业媒体测算，银浆已成为组件第一大单项成本，少银、无银方案在加速导入，而这些方案目前缺少长期户外数据。这是我们最想持续跟踪的一项。
NO.8 背板：新品里垫底，存量里未必
- 送测样品中背板组件仅占约 9%
- 几年前这一比例接近 50%
背板排最后，主要是因为“出场机会”少了，而不是它变得更可靠。双玻成为绝对主流后，背板在新品测试数据中的暴露面已经很小。
我们的看法：如果统计的是在运电站的存量客诉，早年部分类型背板的开裂问题仍然绕不开，背板的名次会靠前得多。这也提醒我们，看任何排名都要先问一句：统计的是新品还是存量。
04三点看法
- 前五名出的都不是“新材料”的问题，而是老材料被减薄、减量、提速之后的问题。薄玻璃、矮边框、低克重胶膜、短层压时间、小裕量接线盒，每一项单看都在规格书允许的范围内，叠在一起就把安全裕量吃光了。Kiwa PVEL 的说法是，成本优化与可靠性风险之间不是一条红线，而是很多条。
- 通过认证不等于可靠。有样品在 TC200（即 IEC 61215 规定的时长）之后二极管就熔毁了；IEA PVPS 也指出，现行 IEC 61215 系列关注的是电性能，对封装聚合物材料本身的稳定性覆盖不足。
- 辅材失效很难“单独定责”。脱层是胶膜配方、层压工艺、助焊剂和玻璃表面共同作用的结果；破片是玻璃、边框、硅胶和安装方式共同作用的结果。客诉分析如果只盯着最后坏掉的那个材料，多半找不到根因。
05给同行的几条建议
- 采购与电站业主：技术协议里把玻璃厚度、边框截面尺寸、胶膜克重、接线盒额定电流裕量写成具体数字，而不是只写“符合 IEC”。
- 组件厂：做 BOM 变更时，优先评估“组合效应”。薄玻璃配矮边框、低克重胶膜配快层压，这类叠加变更要单独验证。
- 辅材厂：把配方层面的数据（助剂体系、酸值、交联度窗口）主动提供给客户，比事后在 8D 报告里解释要划算得多。
- 所有人：功率衰减低，不代表组件可靠。验收时把外观、绝缘、二极管功能和功率放在同等位置。
06写在最后
2026 年拖可靠性后腿的，不是哪一种新材料，而是被一点点“省”出来的裕量：玻璃、胶膜和接线盒首当其冲。
Scorecard 从今年起改为一年两更，更新版将于 2026 年 11 月发布，届时我们会再更新这份榜单。你所在的环节，客诉最多的是哪一种辅材？欢迎与我们交流。
参考资料
- Kiwa PVEL：2026 PV Module Reliability Scorecard（首页、Failures、Mechanical Stress Sequence 等页面）；新闻稿“Kiwa PVEL Debuts 12th Edition of the PV Module Reliability Scorecard”，2026 年 5 月 27 日
- Kiwa PVEL：PVSC 2026 Scorecard Failures 海报；EU PVSEC 2026 Scorecard Failures 报告（2026 年 9 月）
- Solar Builder：Why are PQP test failures increasing? A look at PV module reliability（Tristan Erion-Lorico，2026 年 9 月 9 日）
- TaiyangNews：PVEL Scorecard 2026: Reliability Improves, Yet Failure Rates Rise（2026 年 6 月）
- PV Tech：Kiwa PVEL Tristan Erion-Lorico 访谈（2026 年 5 月 29 日）；Buyer beware: Examining failures in the 2024 PV Module Reliability Scorecard
- Kiwa：Top Performers, Hidden Risks: Inside Kiwa PVEL's 2025 PV Module Reliability Scorecard
- pv magazine USA：Solar risks: Internal fire, regulatory fines, and battery inaccuracies（kWh Analytics 2026 Solar Risk Assessment，2026 年 5 月 13 日）
- IEA PVPS Task 13：Degradation and Failure Modes in New Photovoltaic Cell and Module Technologies（T13-30:2025）
- pv magazine：Not all POE encapsulants protect TOPCon solar cells from corrosion（2026 年 1 月 16 日）；UNSW 湿热失效机理研究（2026 年 2 月 2 日）
- pv magazine Australia：Glass frit chemistry explains EVA-driven degradation mechanisms in TOPCon solar cells（2026 年 5 月 19 日）
- OFweek 太阳能光伏网：从拥硅为王到去银为王（2026 年 1 月）
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