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一张电路图,读懂光伏电池:单二极管等效电路模型 ​

读完这篇,你能回答

① 为什么一片电池可以画成“电流源 + 二极管 + 两个电阻”;② Rs、Rsh、I0、n 分别对应电池里的什么物理过程;③ 看到一条变了形的 I-V 曲线,先怀疑哪个参数。

拿到一份电池片或组件的 I-V 测试报告,除了 Voc、Isc、FF 和效率,上面往往还有两个不太起眼的数字:Rs 和 Rsh。它们从哪来?为什么 Rs 大了 FF 就掉,Rsh 小了弱光发电就差?

答案藏在一张只有四个元件的电路图里,它叫单二极管等效电路模型(也有人叫它单二极管等效电阻模型,或“五参数模型”)。I-V 曲线的参数提取、PVsyst 这类发电量仿真软件里的组件模型,底层用的都是它。本文用 8 张图把它讲清楚。

01为什么电池能画成一张电路图 ​

晶硅电池的本质是一个面积很大的 PN 结。不照光的时候,它就是一只普通的二极管:正向导通,反向截止。

照光之后,光子在硅里激发出电子和空穴,被 PN 结的内建电场分开,形成一股光生电流。这股电流的大小基本只由光照决定,和电池两端的电压关系不大,所以可以用一个恒流源来表示。

于是最朴素的画法就有了:一个恒流源,并联一只二极管。再把现实中的两类损耗补上,一类是“半路漏掉的”,一类是“堵在路上的”,就得到了完整的等效电路。

图1 单二极管等效电路

图1 单二极管等效电路:四个元件,各自对应一种物理过程

02四个元件,各管一件事 ​

  • 电流源 Iph(光生电流):由光照产生,与辐照度成正比,也取决于电池“吃光”和“收集”的能力:减反射、陷光、栅线遮挡、表面与体内的钝化。标准测试条件下,高效晶硅电池大约是 40~42 mA/cm²。
  • 二极管 D(饱和电流 I0、理想因子 n):代表载流子的复合,也就是光生的电子和空穴还没流出去就在内部“内耗”掉了。I0 越小,复合越少,开路电压越高。n 接近 1 说明接近理想二极管,偏向 2 说明结区或缺陷处的复合比较重。
  • 并联电阻 Rsh(漏电旁路,越大越好):绕过 PN 结的漏电通道。常见来源:边缘刻蚀或绝缘不良、烧结时浆料烧穿结区、微裂纹、杂质和晶体缺陷,以及 PID(电势诱导衰减)造成的分流。
  • 串联电阻 Rs(路上损耗,越小越好):电流流出电池一路上遇到的所有电阻之和:硅片体电阻、扩散层的横向电阻、金属与硅的接触电阻、细栅和主栅的线电阻。到了组件层面,还要加上焊带、汇流条和接线盒。
打个比方

把电池想成一套供水系统。电流源是水泵,光越强泵得越多;二极管是一只泄压阀,压力(电压)越高开得越大,水从这里流回去;并联电阻是水箱上的小漏孔,一直在悄悄漏;串联电阻是又细又长的出水管,流量越大,压力损失越大。

03一条方程,五个参数 ​

对电路图用一次基尔霍夫电流定律,输出电流等于光生电流减去二极管电流,再减去漏电流:

单二极管模型的 I-V 方程

其中 Vt = kT/q 叫热电压,25 ℃ 时约 25.7 mV。方程里需要确定的参数一共五个:Iph、I0、n、Rs、Rsh,“五参数模型”的名字就是这么来的。

进阶一点:注意 I 同时出现在等号两边,这是个隐式方程,不能直接写出 I = f(V),通常要迭代求解或者用 Lambert W 函数。有个省事的办法:先设结电压 Vd = V + I·Rs,从小到大扫 Vd,可以直接算出 I,再用 V = Vd − I·Rs 反推端电压。本文所有曲线都是这样画出来的。

为了不受电池尺寸影响,下文一律用面积归一化的量:电流用电流密度 J(mA/cm²),电阻用 Ω·cm²。所有曲线基于下面这组示意参数,量级接近目前主流的 n 型高效电池,但不代表任何具体产品。

参数取值含义
Jph41.0 mA/cm²光生电流密度
J027.5 fA/cm²饱和电流密度
n1.0理想因子
Rs0.5 Ω·cm²串联电阻
Rsh5000 Ω·cm²并联电阻

表1 本文使用的基准参数(STC:1000 W/m²,25 ℃)

04I-V 曲线是“减”出来的 ​

先看最简单的情况:没有串阻,也没有漏电。这时输出电流就是一条水平线(光生电流)减去一条指数曲线(二极管电流)。

图2 I-V 曲线的由来

图2 I-V 曲线的由来:水平的光生电流,减去指数上升的二极管电流

  • 短路时(V = 0):二极管几乎不导通,光生电流全部流向外电路,所以短路电流 Isc ≈ Iph。
  • 电压升高:二极管电流按指数规律增长,越来越多的光生电流被内部“吃掉”。当它恰好把光生电流全部吃完,输出电流归零,这时的电压就是开路电压:

开路电压的近似表达式

这个式子很值得多看两眼。Iph 和 I0 都在对数里面,所以 I0 每增大 10 倍,Voc 下降约 59 mV(n = 1、25 ℃ 时)。从 PERC 到 TOPCon、HJT、BC,电池技术这些年的主线是钝化,本质上都是在压低 I0。

05三个关键点与填充因子 ​

把串阻和漏电加回来,用表 1 的参数算一遍,就得到一条完整的 I-V 曲线。曲线上有三个点最重要:短路点、开路点,以及电压与电流乘积最大的那个点,最大功率点 MPP。

图3 基准参数下的 I-V 与 P-V 曲线

图3 基准参数下的 I-V 与 P-V 曲线

填充因子与转换效率的定义

填充因子 FF 衡量的是曲线有多“方”。本例算出来 Voc = 720 mV、Jsc = 41.0 mA/cm²、FF = 82.1%,效率 24.24%。

如果把 Rs 设为 0、Rsh 设为无穷大,同样的二极管能给出的 FF 上限约为 85.0%。也就是说,这片电池有 2.9 个百分点的 FF 被两个电阻吃掉了,其中 Rs 约占 2.6 个点,Rsh 约占 0.3 个点。下面分别看它们是怎么“吃”的。

06串联电阻 Rs:把拐角压塌 ​

图4 只改变 Rs 时 I-V 曲线的变化

图4 只改变 Rs 时 I-V 曲线的变化

  • Voc 不变。开路时没有电流流过,Rs 上自然没有压降。
  • Isc 基本不变。除非 Rs 大到离谱,短路电流几乎不受影响。
  • 拐角塌下去。最大功率点附近电流大,在 Rs 上的压降也大,于是曲线的“肩膀”被削掉,FF 下降。

一个好用的估算:FF 的相对损失 ≈ Rs × Jsc / Voc。代入本例,0.5 × 0.041 / 0.72 ≈ 2.8%。换成更直观的说法,Rs 每增加 0.1 Ω·cm²,FF 约掉 0.5 个百分点,效率约掉 0.15 个百分点。

Rs 上的损耗是 I²R,与电流的平方成正比。半片组件把每串电流减半,焊带上的损耗就降到约四分之一;多主栅则是缩短电流在细栅上要走的距离。两者都是在同一个参数上做文章。

进阶一点:常听到“Voc 处的斜率就是 Rs”,这个说法不够严谨。Voc 处的斜率还叠加了二极管自身的动态电阻,约等于 Rs + n·Vt / Jph。本例里按斜率读出来是 1.13 Ω·cm²,而真实的 Rs 只有 0.5,多出来的 0.63 全是二极管贡献的。严谨的做法是用不同辐照度下的多条 I-V 曲线来提取,或者对比 Suns-Voc 曲线与光照 I-V 曲线。现行的 IEC 60891:2021 新增了一个资料性附录,专门汇总了测定串联电阻的补充方法,可以作为实验室的参考依据。

07并联电阻 Rsh:让平台倾斜 ​

图5 只改变 Rsh 时 I-V 曲线的变化

图5 只改变 Rsh 时 I-V 曲线的变化

  • 平台变斜。Isc 附近曲线的斜率约为 −1/Rsh,Rsh 越小,这段本该水平的“平台”就越倾斜。
  • FF 下降。Rsh 降到几百 Ω·cm² 以下时,FF 的损失开始变得明显。
  • Voc 也会被拉低。漏电严重到一定程度(图中 Rsh = 30),连开路电压也保不住。

在标准光强下,Rsh 只要不太差,影响并不显眼。它真正的杀伤力在弱光:

图6 不同 Rsh 下,效率随辐照度的变化

图6 不同 Rsh 下,效率随辐照度的变化(以各自 1000 W/m² 时的效率为 100%)

原因很直接:漏电流大约是 V / Rsh,和光强几乎无关;而光生电流正比于光强。光越弱,漏掉的那部分占比就越大。按本文参数计算,辐照度降到 200 W/m² 时,Rsh = 5000 的电池还能保持 STC 效率的 95%,Rsh = 1000 时剩 90%,Rsh = 300 时只剩 76%。

所以,弱光性能差的电池或组件,第一个要怀疑的就是 Rsh。

08辐照管电流,温度管电压 ​

图7 辐照度与温度对 I-V 曲线的影响

图7 辐照度与温度对 I-V 曲线的影响

辐照度直接决定 Iph,所以电流跟着光强成比例变化。电压则只按对数关系变化:辐照度从 1000 降到 200 W/m²,电流变成原来的五分之一,Voc 只从 720 mV 降到 678 mV。

温度主要影响二极管。温度升高,硅里的本征载流子浓度急剧增加,I0 呈指数上升,Voc 随之下降。在本文的模型里,Voc 的温度系数约为 −1.9 mV/℃(−0.26%/℃),电流略有上升(+0.045%/℃),合起来最大功率的温度系数约为 −0.30%/℃,与 n 型组件规格书上常见的数值相近。

09关了灯再看:暗 I-V 曲线 ​

不打光,直接给电池加正向电压,测到的就是暗 I-V 曲线。把电流画在对数坐标上,三个参数的“势力范围”会分得很清楚。

图8 暗 I-V 曲线的三个区段

图8 暗 I-V 曲线的三个区段

  • 低电压段:二极管还没导通,电流全靠漏电通道,这一段的高低由 Rsh 决定。
  • 中间段:二极管电流占主导,在对数坐标下是一条直线,斜率反映 n,截距反映 I0。
  • 高电压段:电流很大,串阻上的压降让曲线弯下来,弯得越早说明 Rs 越大。

这也是为什么暗 I-V 在实验室和产线上是一个很实用的诊断手段:一次扫描,三个参数各看一段。IEC 60904-1:2020 也专门增加了暗 I-V 曲线测量的资料性附录。

10这个模型管不了什么 ​

单二极管模型足够简单,也足够好用,但它毕竟是近似。下面几种情况需要更复杂的工具:

  • 低电压和弱光下的细节。再并联一只 n = 2 的二极管来描述耗尽区复合,就是双二极管模型,在这些区段拟合得更准。
  • Rs 不是一个常数。真实的串阻是分布式的,会随电流和光强略有变化,模型里把它当成了一个集总的定值。
  • 反向偏压。电池被遮挡时会被反偏,甚至击穿发热。分析热斑需要在模型里加入反向击穿项。
  • 组件和组串。多片串联时,把 n·Vt 乘以串联片数、电阻相应放大即可套用。但只要出现失配、阴影或旁路二极管动作,就得逐片建模。
  • 动态效应。高效 n 型电池的结电容大,测试脉冲太短会让曲线失真;钙钛矿电池还有迟滞。这些是随时间变化的过程,稳态模型描述不了。IEC 60904-1:2020 为此增加了“带电容的光伏器件”资料性附录,测高效电池和组件时值得对照。

11速查:从曲线形状反推问题 ​

曲线现象对应参数常见原因
电流整体偏低Iph 下降辐照不足、表面脏污或遮挡;玻璃、胶膜透光率下降(如黄变);减反射膜出问题
Voc 偏低,曲线整体左移I0 增大,或温度偏高钝化退化(LID、LeTID、紫外衰减等);测试温度偏高;组件里有电池短路或旁路二极管导通时,Voc 会成段地掉
拐角变塌,Voc 附近变缓Rs 增大栅线断裂或接触退化;焊接不良、虚焊;汇流条或接线盒的连接电阻增大;金属化腐蚀
Isc 附近的平台变斜Rsh 减小边缘漏电、微裂纹、PID 分流;在组件上,电池之间的电流失配也会造成类似的倾斜,需结合 EL 判断
曲线上出现台阶超出单二极管模型的范围局部遮挡、碎片、电池严重失配导致旁路二极管动作;需逐片分析,不能再用一组参数描述整块组件

12写在最后 ​

单二极管模型只有四个元件、五个参数,却几乎能解释 I-V 曲线上所有的“正常变化”。把它装进脑子里,再看测试报告时,就不只是读几个数字,而是能顺着曲线的形状,追到电池里具体哪个环节出了问题。

小结

① 一片电池 = 电流源(光生电流)+ 二极管(复合)+ 并联电阻(漏电)+ 串联电阻(路上损耗)。

② Iph 决定电流,I0 和 n 决定电压,Rs 和 Rsh 决定曲线有多“方”。

③ Rs 压塌拐角、不动 Voc;Rsh 让平台倾斜、弱光下尤其要命。

你在 I-V 分析中遇到过哪些“看不懂”的曲线?欢迎与我们交流。

计算说明:文中曲线和数值均由单二极管模型按表 1 的示意参数计算得到(扫描结电压 Vd 求解),用于说明规律,不代表任何具体产品的实测数据。FF 上限(Rs = 0、Rsh = ∞)为 85.0%,仅去掉 Rs 时为 84.7%,由此拆分出 Rs 约 2.6 个点、Rsh 约 0.3 个点。Voc 处斜率 ≈ Rs + n·Vt/Jph = 0.5 + 0.0257/0.041 ≈ 1.13 Ω·cm²。温度曲线假设 J0 ∝ T³·exp(−Eg/kT)(Eg 取约 1.2 eV)、Jph 温度系数 +0.045%/℃。

参考资料

  1. IEC 60891:2021《光伏器件 I-V 特性温度和辐照度校正方法》(第三版,新增串联电阻测定补充方法附录)
  2. IEC 60904-1:2020《光伏器件 第 1 部分:光伏电流-电压特性的测量》(第三版,新增带电容器件、暗 I-V 曲线等资料性附录)
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